بله ، دمای محیط در واقع بر نتایج آزمایش A تأثیر می گذارد تجهیزات تست تحلیل پاسخ فرکانس جاروبرقی، در درجه اول از طریق مکانیسم های زیر:
1. تغییر در مقاومت در برابر سیم پیچ:
مقاومت یک هادی با افزایش درجه حرارت افزایش می یابد (به دنبال فرمول r2= r1 [1+ (t2 - t1)] r2= r1 [1+ (t2 −T1)] ، از کجا ضریب دما مقاومت مقاومت).
افزایش مقاومت منجر به تلفات بیشتر در سیم پیچ می شود.
در تجزیه و تحلیل پاسخ فرکانس (FRA) ، تلفات بالاتر (عمدتا از دست دادن مقاومت) باعث کاهش دامنه منحنی پاسخ ، به ویژه در اواسط - به - دامنه فرکانس بالا می شود. سیگنال های فرکانس بالا-} نسبت به تلفات مقاومت بیشتر مستعد هستند.
تأثیر بر نتایج: با افزایش دما ، کل منحنی پاسخ ، به ویژه قسمت - به -}}} بخش های فرکانس بالا ، در دامنه به سمت پایین تغییر می کند (منفی تر می شود). این می تواند ویژگی های تغییر شکل سیم پیچ اصلی را نقاب کند یا مصنوعات شبیه به تغییر شکل های جزئی (به عنوان مثال ، کاهش دامنه کلی) ایجاد کند.
2. اثرات ثابت و خازنی DELECTRIC:
خازن های توزیع شده بین چرخش های سیم پیچ ترانسفورماتور ، لایه ها ، دیسک ها و زمین وجود دارد. این خازن ها به طور انتقادی منحنی پاسخ فرکانس را شکل می دهند.
ثابت دی الکتریک مواد عایق (به عنوان مثال ، روغن ، کاغذ) با دما تغییر می کند. به طور کلی با افزایش دما افزایش می یابد.
افزایش ثابت دی الکتریک کمی مقادیر خازن توزیع شده را افزایش می دهد.
تأثیر بر نتایج: تغییرات در خازن فرکانسهای رزونانس مدار را تغییر می دهد. این می تواند باعث تغییر جزئی در موقعیت ها (نقاط فرکانس) قله های رزونانس/DIP در منحنی پاسخ فرکانس شود. در حالی که به طور معمول کمتر از تغییر دامنه ناشی از تغییر مقاومت قابل توجه است ، این اثر برای مقایسه دقیق یا تشخیص دقیق {{2} بالا نیاز دارد.
3. استرس مکانیکی در سیم پیچ (جزئی و غیرمستقیم):
تغییرات شدید یا سریع دمای می تواند باعث انبساط/انقباض حرارتی دیفرانسیل مواد داخلی شود (هادی ، عایق ، پشتیبانی) ، ایجاد تنش های مکانیکی جزئی.
تأثیر بر نتایج: از لحاظ تئوری ، این می تواند باعث ایجاد تغییرات بسیار کوچک و بالقوه برگشت پذیر در هندسه سیم پیچ شود. این تغییرات معمولاً برای تشخیص قابل اعتماد توسط آزمایش کنندگان تغییر شکل سیم پیچ (که هدف قرار دادن مکانیکی قابل توجه/تغییر شکل را هدف قرار می دهد) بسیار ظریف هستند ، اما در موارد بحرانی ، ممکن است بسیار ضعیف بر تکرار نتیجه آزمایش تأثیر بگذارد.
4.Temperature Drift از تستر خود (نیاز به توجه دارد):
پارامترهای عملکرد اجزای الکترونیکی در تستر (آمپلی فایرها ، فیلترها ، ADC و غیره) نیز ممکن است با تغییرات دمای محیط کمی حرکت کنند.
تأثیر بر روی نتایج: ابزارهای با کیفیت مدرن - برای به حداقل رساندن این رانش و کاهش اثرات آن از طریق کالیبراسیون طراحی شده اند. با این حال ، در دمای شدید یا با ابزارهای انتهایی- پایین تر ، رانش دمای خود تستر می تواند خطاهای اندازه گیری اضافی را معرفی کند.